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本实用新型公开了一种集成电路高低温测试装置，包括主体，所述主体的内部一侧设置有加工区域，且加工区域的内部上下部设置有测试机构，所述加工区域的中部及一侧设置有翻转机构，且翻转机构的中部两侧设置有多尺寸适配机构，所述多尺寸适配机构包括测试架，且...
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