下载半导体器件及其形成方法的技术资料

文档序号:37560328

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本申请公开一种半导体器件及其形成方法,其中形成方法包括:提供衬底,在所述衬底内形成绝缘层与被所述绝缘层所分离的第一导电接触垫;在所述衬底上形成多个凸柱;在相邻的两个所述凸柱之间形成半导体结构,所述半导体结构与所述第一导电接触垫接触,所述半导...
该专利属于福建省晋华集成电路有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过福建省晋华集成电路有限公司授权不得商用。

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