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本申请涉及一种阻挡杂质带探测器及其制备方法、探测系统。其中，阻挡杂质带探测器包括：衬底、转接电极与至少一个接收单元；所述衬底具有相对的第一表面与第二表面，所述接收单元从所述第一表面开始朝向所述第二表面延伸；所述接收单元在所述第一表面上阵列排...
该专利属于之江实验室所有，仅供学习研究参考，未经过之江实验室授权不得商用。

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