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本发明公开了一种射频匹配电压检测方法、检测装置、电子设备及存储介质,检测方法包括步骤:对输出电压进行连续采样,以获得采样电压,并同步获取脉冲信号的脉冲电平;每当连续获取的第一目标数量的脉冲电平均处于脉冲开启阶段时,记录下一次采样的采样电压,...该专利属于深圳市广能达半导体科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳市广能达半导体科技有限公司授权不得商用。
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本发明公开了一种射频匹配电压检测方法、检测装置、电子设备及存储介质,检测方法包括步骤:对输出电压进行连续采样,以获得采样电压,并同步获取脉冲信号的脉冲电平;每当连续获取的第一目标数量的脉冲电平均处于脉冲开启阶段时,记录下一次采样的采样电压,...