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本发明提供了一种芯片内部启动程序测试信息导出方法，包括：运行芯片内部启动程序，进行打点记录并保存生成的记录信息；初始化连接接口，接收来自上位机的FDL1程序；初始化FDL1程序，读取记录信息；根据记录信息判断芯片内部启动程序是否启动失败；当...
该专利属于厦门紫光展锐科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过厦门紫光展锐科技有限公司授权不得商用。

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