芯片内部启动程序测试信息导出方法技术

本发明专利技术提供了一种芯片内部启动程序测试信息导出方法，包括：运行芯片内部启动程序，进行打点记录并保存生成的记录信息；初始化连接接口，接收来自上位机的FDL1程序；初始化FDL1程序，读取记录信息；根据记录信息判断芯片内部启动程序是否启动失败；当终端启动异常时，向上位机发送芯片内部启动程序的错误信息；接收测试信息导出命令；将芯片内部启动程序的异常信息保存地址发送至上位机以导出测试信息。该方法通过在芯片内部启动程序的下一级程序设计异常信息导出流程来实现导出芯片内部启动程序的测试信息，以提升芯片内部启动程序的维测能力，减少故障排除过程中的人力物力成本付出。付出。付出。

【技术实现步骤摘要】
芯片内部启动程序测试信息导出方法


[0001]本专利技术涉及通信
，尤其涉及一种芯片内部启动程序测试信息导出方法。

技术介绍

[0002]芯片内部启动程序(BootRom)固化在不可擦除的存储介质内，其运行逻辑无法改变，由于硬件生产的电路的错焊漏焊或芯片良率因素这些偶然缺陷，芯片内部启动程序运行也可能发生问题，导致终端设备在芯片内部启动阶段启动失败。而由于芯片内部启动程序在芯片出厂后便无法改变，出于芯片面积、功耗、成本以及稳定性的考虑，芯片内部启动程序不能设计得过于复杂，因此测试能力设计可能考虑不足，导致这段程序运行阶段的debug(故障排除)难度骤然增加。
[0003]根据程序日志定位硬件故障是最直观的问题解决手段，目前芯片内部启动阶段维测设计主要是通过串口输出错误日志或通过联合测试工作组(JointTest ActionGroup，JTAG)Debug手段访问内存地址获取保存日志。
[0004]但Debug串口与JTAG连线不常引出，一般需要拆开终端设备的外壳并飞线连接到对应模块的功能引脚，不仅连接过程费时费力，且对于本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片内部启动程序测试信息导出方法，其特征在于，包括：运行芯片内部启动程序，进行打点记录并保存生成的记录信息；初始化连接接口，接收来自上位机的FDL1程序；初始化所述FDL1程序，读取所述记录信息；根据所述记录信息判断所述芯片内部启动程序是否启动失败；当终端启动异常时，向所述上位机发送所述芯片内部启动程序的错误信息；接收测试信息导出命令；将所述芯片内部启动程序的异常信息保存地址发送至所述上位机，以导出所述测试信息。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述记录信息判断所述芯片启动程序是否启动失败，包括：读取所述记录信息中的启动失败标志位，判断失败标志是否置上；当所述失败标志置上时，所述芯片内部启动程序启动失败。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，向所述上位机发送所述芯片内部启动程序的错误信息，包括：根据设定格式建立FDL1握手包；将所述芯片内部启动程序的错误信息放入所述FDL1握手包中，所述错误信息包括版本号和错误码；向所述上位机发送所述FDL1握手包。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，将所述芯片内部启动程序的异常信息保存地址发送至所述上位机，包括：根据设定格式建立测试信息数据包；将所述异常信息保存地址放入所述测试信息数据包中；向所述上位机发送所述测试信息数据包。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述记录信息保存于随机存取存储器的第一存储空间；所述FDL1程序保存于随机存取存储器的第二存储空间。6.一种芯片内部启动程序测试信息导出装置，其特征在于，包括：记录单元，用于运行芯片内部启动程序，进行打点记录并保存生成的记录信息；下载单元，用于初始化连接接口，接收来自上位机的FDL1程序；读取单元，用于初始化所述FDL1程序，读取所述记录信息；判断单元，...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄志贤，于方炜，李夏河，
申请(专利权)人：厦门紫光展锐科技有限公司，
类型：发明
国别省市：