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探测性能测试方法、装置、计算设备及存储介质制造方法及图纸
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文档序号:37515964
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本申请属于探测性能测试技术领域,提供一种探测性能测试方法、装置、计算设备及存储介质,通过控制待测激光设备在水平方向上旋转、向测试环境中的m个反射面发射n线激光束并将第j线激光束调节至水平方向,然后获取n线激光束探测到的测试环境的第j点云数据...
该专利属于武汉万集光电技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过武汉万集光电技术有限公司授权不得商用。
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