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本申请公开了一种辐照条件下的状态确定方法、装置、设备及介质，其中，所述方法包括：获取目标放射源的能谱数据；基于所述能谱数据确定辐照设备的辐照参数；其中，所述辐照设备的束流强度的精度大于或等于目标精度；基于所述辐照参数控制所述辐照设备对待测样...
该专利属于中国原子能科学研究院所有，仅供学习研究参考，未经过中国原子能科学研究院授权不得商用。

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