辐照条件下的状态确定方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

本申请公开了一种辐照条件下的状态确定方法、装置、设备及介质，其中，所述方法包括：获取目标放射源的能谱数据；基于所述能谱数据确定辐照设备的辐照参数；其中，所述辐照设备的束流强度的精度大于或等于目标精度；基于所述辐照参数控制所述辐照设备对待测样品进行辐照，得到所述待测样品输出的能量数据集合；基于所述能量数据集合，确定所述待测样品在包括所述辐照参数在内的辐照条件下的能量输出状态。态。态。

【技术实现步骤摘要】
辐照条件下的状态确定方法、装置、设备及介质


[0001]本申请涉及辐照能量转换
，尤其涉及一种辐照条件下的状态确定方法、装置、设备及介质。

技术介绍

[0002]材料、薄膜或器件被放射源辐照时输出能量的特性，在能量转换
得到了广泛的应用，因此，精确的确定材料、薄膜或器件等样品在辐照条件下的能量输出状态就显得格外重要。相关技术中虽然提供了一些在辐照条件下确定样品辐照能量的方法，但通过这些方法确定的样品的能量输出状态的精度较低。

技术实现思路

[0003]基于以上技术问题，本申请实施例提供了一种辐照条件下的状态确定方法、装置、设备及介质。
[0004]本申请实施例提供的技术方案是这样的：
[0005]本申请实施例提供了一种辐照条件下的状态确定方法，所述方法包括：
[0006]获取目标放射源的能谱数据；
[0007]基于所述能谱数据确定辐照设备的辐照参数；其中，所述辐照设备的束流强度的精度大于或等于目标精度；
[0008]基于所述辐照参数控制所述辐照设备对待测样品进行辐照，得到所述待测样品输出的能量数据集合；
[0009]基于所述能量数据集合，确定所述待测样品在包括所述辐照参数在内的辐照条件下的能量输出状态。
[0010]在一些实施例中，所述能谱数据至少包括所述目标放射源所发射的电子的能量数据；所述辐照参数至少包括所述辐照设备发射电子的能量数据集合；所述基于所述能谱数据确定辐照设备的辐照参数，包括：
[0011]基于所述能谱数据中所述目标放射源所发射的电子的能量数据，确定所述目标放射源发射电子的能量辐射范围；
[0012]基于所述能量辐射范围，确定所述能量数据集合。
[0013]在一些实施例中，所述基于所述能量辐射范围，确定所述能量数据集合，包括：
[0014]基于所述能量辐射范围内所述目标放射源发射电子的能量数据的分布状态，确定采样策略；
[0015]基于所述采样策略，对所述能量辐射范围内所述目标放射源发射电子的能量数据进行采样，确定所述能量数据集合。
[0016]在一些实施例中，所述能谱数据至少包括所述目标放射源的活度数据；所述辐照参数至少包括所述辐照设备发射电子束的束流强度集合；所述基于所述能谱数据确定辐照设备的辐照参数，包括：
[0017]基于所述能谱数据，确定所述目标放射源的发射概率集合；其中，所述发射概率集合包括所述目标放射源的任一能量数据出现概率的集合；
[0018]基于所述发射概率集合以及所述活度数据，确定所述束流强度集合。
[0019]在一些实施例中，所述基于所述发射概率集合以及所述活度数据，确定所述束流强度集合，包括：
[0020]基于所述活度数据的活度总量以及所述发射概率集合中的至少部分发射概率，确定目标发射强度数据集合；
[0021]基于元电荷对所述目标发射强度数据集合中的发射强度数据进行转换，得到所述束流强度集合。
[0022]在一些实施例中，所述辐照参数包括能量数据集合和/或束流强度集合；所述能量数据集合包括所述辐照设备发射电子的能量数据的集合；所述束流强度集合包括所述辐照设备发射电子束的束流强度的集合；所述辐照设备包括电子枪；所述基于所述辐照参数控制所述辐照设备对待测样品进行辐照，包括：
[0023]控制所述电子枪基于所述能量数据集合中的能量数据和/或所述束流强度集合中的束流强度，对所述待测样品进行辐照。
[0024]在一些实施例中，所述基于所述辐照参数控制所述辐照设备对待测样品进行辐照，得到所述待测样品输出的能量数据集合，包括：
[0025]基于所述辐照参数控制所述辐照设备对所述待测样品进行辐照，检测所述待测样品输出的亮度数据集合和/或电功率数据集合；
[0026]所述基于所述能量数据集合，确定所述待测样品在包括所述辐照参数在内的辐照条件下的能量输出状态，包括：
[0027]对所述亮度数据集合和/或所述电功率数据集合进行整合统计，得到所述待测样品在所述辐照条件下的光能输出状态和/或电能输出状态。
[0028]在一些实施例中，所述目标放射源包括β放射源。
[0029]本申请实施例还提供了一种辐照条件下的状态确定装置，所述装置包括：
[0030]获取模块，用于获取目标放射源的能谱数据；
[0031]确定模块，用于基于所述能谱数据确定辐照设备的辐照参数；其中，辐照设备的束流强度的精度大于或等于目标精度；
[0032]控制模块，用于基于辐照参数控制辐照设备对待测样品进行辐照，得到待测样品输出的能量数据集合；
[0033]所述确定模块，还用于基于能量数据集合，确定待测样品在包括辐照参数在内的辐照条件下的能量输出状态。
[0034]本申请实施例还提供了一种电子设备，所述电子设备包括处理器和存储器；所述存储器中存储有计算机程序；所述计算机程序被所述处理器执行时，能够实现如前任一所述的辐照条件下的状态确定方法。
[0035]本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述存储介质中存储有计算机程序；所述计算机程序被电子设备的处理器执行时，能够实现如前任一所述的辐照条件下的状态确定方法。
[0036]本申请实施例提供的辐照条件下的状态确定方法，在获取目标放射源的能谱数据
后，能够基于能谱数据确定辐照设备的辐照参数，从而使得辐照设备的辐照参数能够与目标放射源的能谱数据一致；并且，通过基于辐照参数控制辐照设备对待测样品进行辐照，实现了通过辐照设备的辐照操作对目标放射源的辐射过程的模拟，能够提高对待测样品进行辐照的安全性；而且，通过调整目标放射源，能够通过辐照设备的辐照操作实现对多种目标放射源的辐射过程的全方位模拟，从而得到待测样品在多种目标放射源的辐照条件下的能量输出状态。
[0037]与此同时，由于辐照设备的束流强度的精度大于或等于目标精度，从而能够实现对辐照参数的精细粒度控制，进而能够改善对待测样品进行辐照的精细度，实现对待测样品在辐照参数的细微变化下的能量数据集合的捕捉，提高能量数据集合以及能量输出状态的精准度。
[0038]另一方面，基于分散的能量数据集合，确定待测样品在辐照条件的辐照下的能量输出状态，实现了对分散的能量数据集合的有机整合，从而能够从精细粒度以及宏观上分别体现待测样品在多种辐照条件下的整体能量输出状态，进而能够提高待测样品在多种辐照条件下的能量输出状态的全面性和精准性。
附图说明
[0039]图1为本申请实施例提供的辐照条件下的状态确定方法的流程示意图；
[0040]图2为本申请实施例提供的确定能量数据集合的流程示意图；
[0041]图3为本申请实施例提供的检测待测样品输出的亮度数据集合以及电功率数据集合的原理示意图；
[0042]图4为本申请实施例提供的发射概率集合以及能量数据集合的分布状态示意图；
[0043]图5为本申请实施例提供的辐照条件下的状态确定装置的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种辐照条件下的状态确定方法，其特征在于，所述方法包括：获取目标放射源的能谱数据；基于所述能谱数据确定辐照设备的辐照参数；其中，所述辐照设备的束流强度的精度大于或等于目标精度；基于所述辐照参数控制所述辐照设备对待测样品进行辐照，得到所述待测样品输出的能量数据集合；基于所述能量数据集合，确定所述待测样品在包括所述辐照参数在内的辐照条件下的能量输出状态。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述能谱数据至少包括所述目标放射源所发射的电子的能量数据；所述辐照参数至少包括所述辐照设备发射电子的能量数据集合；所述基于所述能谱数据确定辐照设备的辐照参数，包括：基于所述能谱数据中所述目标放射源所发射的电子的能量数据，确定所述目标放射源发射电子的能量辐射范围；基于所述能量辐射范围，确定所述能量数据集合。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述能量辐射范围，确定所述能量数据集合，包括：基于所述能量辐射范围内所述目标放射源发射电子的能量数据的分布状态，确定采样策略；基于所述采样策略，对所述能量辐射范围内所述目标放射源发射电子的能量数据进行采样，确定所述能量数据集合。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述能谱数据至少包括所述目标放射源的活度数据；所述辐照参数至少包括所述辐照设备发射电子束的束流强度集合；所述基于所述能谱数据确定辐照设备的辐照参数，包括：基于所述能谱数据，确定所述目标放射源的发射概率集合；其中，所述发射概率集合包括所述目标放射源的任一能量数据出现概率的集合；基于所述发射概率集合以及所述活度数据，确定所述束流强度集合。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述发射概率集合以及所述活度数据，确定所述束流强度集合，包括：基于所述活度数据的活度总量以及所述发射概率集合中的至少部分发射概率，确定目标发射强度数据集合；基于元电荷对所述目标发射强度数据集合中的发射强度数据进行转换，得到所述束流强度集合。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：马俊平，李思杰，李雪，张磊，平杰红，李鑫，
申请(专利权)人：中国原子能科学研究院，
类型：发明
国别省市：