辐照条件下的状态确定方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

本申请公开了一种辐照条件下的状态确定方法、装置、设备及介质，其中，所述方法包括：获取目标放射源的能谱数据；基于所述能谱数据确定辐照设备的辐照参数；其中，所述辐照设备的束流强度的精度大于或等于目标精度；基于所述辐照参数控制所述辐照设备对待测样品进行辐照，得到所述待测样品输出的能量数据集合；基于所述能量数据集合，确定所述待测样品在包括所述辐照参数在内的辐照条件下的能量输出状态。态。态。

【技术实现步骤摘要】
辐照条件下的状态确定方法、装置、设备及介质


[0001]本申请涉及辐照能量转换
，尤其涉及一种辐照条件下的状态确定方法、装置、设备及介质。

技术介绍

[0002]材料、薄膜或器件被放射源辐照时输出能量的特性，在能量转换
得到了广泛的应用，因此，精确的确定材料、薄膜或器件等样品在辐照条件下的能量输出状态就显得格外重要。相关技术中虽然提供了一些在辐照条件下确定样品辐照能量的方法，但通过这些方法确定的样品的能量输出状态的精度较低。

技术实现思路

[0003]基于以上技术问题，本申请实施例提供了一种辐照条件下的状态确定方法、装置、设备及介质。
[0004]本申请实施例提供的技术方案是这样的：
[0005]本申请实施例提供了一种辐照条件下的状态确定方法，所述方法包括：
[0006]获取目标放射源的能谱数据；
[0007]基于所述能谱数据确定辐照设备的辐照参数；其中，所述辐照设备的束流强度的精度大于或等于目标精度；
[0008]基于所述辐照参数控制所述辐照设备对待测样品进行辐照，得到所述待本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种辐照条件下的状态确定方法，其特征在于，所述方法包括：获取目标放射源的能谱数据；基于所述能谱数据确定辐照设备的辐照参数；其中，所述辐照设备的束流强度的精度大于或等于目标精度；基于所述辐照参数控制所述辐照设备对待测样品进行辐照，得到所述待测样品输出的能量数据集合；基于所述能量数据集合，确定所述待测样品在包括所述辐照参数在内的辐照条件下的能量输出状态。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述能谱数据至少包括所述目标放射源所发射的电子的能量数据；所述辐照参数至少包括所述辐照设备发射电子的能量数据集合；所述基于所述能谱数据确定辐照设备的辐照参数，包括：基于所述能谱数据中所述目标放射源所发射的电子的能量数据，确定所述目标放射源发射电子的能量辐射范围；基于所述能量辐射范围，确定所述能量数据集合。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述能量辐射范围，确定所述能量数据集合，包括：基于所述能量辐射范围内所述目标放射源发射电子的能量数据的分布状态，确定采样策略；基于所述采样策略，对所述能量辐射范围内所述目标放射源发射电子的能量数据进行采样，确定所述能量数据集合。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述能谱数据至少包括所述目标放射源的活度数据；所述辐照参数至少包括所述辐照设备发射电子束的束流强度集合；所述基于所述能谱数据确定辐照设备的辐照参数，包括：基于所述能谱数据，确定所述目标放射源的发射概率集合；其中，所述发射概率集合包括所述目标放射源的任一能量数据出现概率的集合；基于所述发射概率集合以及所述活度数据，确定所述束流强度集合。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述发射概率集合以及所述活度数据，确定所述束流强度集合，包括：基于所述活度数据的活度总量以及所述发射概率集合中的至少部分发射概率，确定目标发射强度数据集合；基于元电荷对所述目标发射强度数据集合中的发射强度数据进行转换，得到所述束流强度集合。6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：马俊平，李思杰，李雪，张磊，平杰红，李鑫，
申请(专利权)人：中国原子能科学研究院，
类型：发明
国别省市：