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本申请提供一种测试方法及装置。该方法包括：通过控制连接在晶体管栅极与晶体管衬底之间电源向晶体管栅极施加偏置电压；检测多个偏置电压所对应的衬底交流电流，其中，衬底交流电流是在偏置电压的基础上对晶体管栅极施加的扰动信号的响应电流；其中，晶体管在...
该专利属于长鑫存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过长鑫存储技术有限公司授权不得商用。

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