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本实用新型涉及芯片测试技术领域，更具体地说，它涉及一种芯片测试机及其芯片高温定位装置，芯片高温定位装置包括安装块和加热机构；所述安装块上设有芯片容置槽，所述芯片容置槽的上部具有导正结构，所述导正结构用于对放入芯片容置槽内的芯片导正；所述安装...
该专利属于东莞市华越半导体技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过东莞市华越半导体技术股份有限公司授权不得商用。

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