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本发明公开了芯片链路的电迁移失效时间确定方法、装置及介质。包括：构建芯片中待测链路的仿真模型；按照预设的多组测试条件基于仿真模型对待测链路进行电迁移测试，根据电迁移测试结果确定待测链路的失效时间计算公式，其中，测试条件中包括测试脉冲信号和测...
该专利属于上海燧原科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海燧原科技有限公司授权不得商用。

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