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本实用新型公开了一种芯片测试用翻盖式手测器，包括底座，定位座设置在底座上，且定位座上开有适配芯片的凹槽；两个推动部相对设置在定位座的两侧；两组测试片对称设置在两个推动部的相对一侧，其中，每组测试片包括多个测试片；翻转部一端可转动的与底座相连...
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