温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种半导体器件老化测试控制系统，所述半导体器件老化测试控制系统包括：上位机，上位机用于发送控制指令以及获取半导体器件的老化状态信息；主板，主板用于转发老化状态信息和控制指令，主板包括主控单元和从控单元，主控单元与上位机通信，主控...
该专利属于天芯互联科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过天芯互联科技有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。