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本发明提供一种时隙交换电路测试装置及方法，第一交换电路配置为消息模式进行传递数据并且进行效验。把第二交换电路配置为交换模式，将第一交换电路产生的时隙数据交换到指定的输出时隙上并且进行效验。MCU主控模块以第三交换电路的时隙存储器作为读取交换...
该专利属于上海新殿光电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海新殿光电子科技有限公司授权不得商用。

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