一种时隙交换电路测试装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种时隙交换电路测试装置及方法，第一交换电路配置为消息模式进行传递数据并且进行效验。把第二交换电路配置为交换模式，将第一交换电路产生的时隙数据交换到指定的输出时隙上并且进行效验。MCU主控模块以第三交换电路的时隙存储器作为读取交换消息数据的对象，读取交换消息数据后与预设交换消息数据进行对比效验得出测试结果。本发明专利技术可灵活编写各种测试算法，实现对目标交换电路更全面、更深入的测试，更能发现目标电路存在的临界问题和偶发问题，极大提高目标电路功能的正确性以及性能的稳定性、抗干扰性和健壮性；测试全程由MCU控制，无需人为参与，效率高。效率高。效率高。

【技术实现步骤摘要】
一种时隙交换电路测试装置及方法


[0001]本专利技术涉及数字交换网络
，特别是涉及一种时隙交换电路测试装置及方法。

技术介绍

[0002]传统针对基于FPGA的应用设计的功能和性能的验证方式是在设计阶段对其进行各种仿真，如图1所示，包括RTL级仿真、静态仿真和时序仿真。如图2所示，在做仿真测试时，需要搭建一个仿真测试平台，需要编写相应的仿真文件，对待验证的设计添加激励，并对响应输出做分析得出最终仿真结果。
[0003]上述传统方式至少存在以下三点不足：第一，需要编写相应的仿真文件，而仿真文件的编写难度随应用设计功能复杂度的增加而增加，导致测试难度增大；第二，仿真很难做到全面覆盖，导致应用设计的某些隐蔽缺陷发现不了；第三，基于计算机的仿真仅仅只是利用计算机软硬件资源进行的模拟仿真，距离现实环境(电磁场、温度、湿度、气压等)有很大差距，即使通过了各种模拟仿真验证，电路的稳定性、抗干扰性和健壮性也还是不能充分保证。
[0004]因为计算机模拟仿真存在的诸多不足，一般应用设计最终还是要放到实际系统环境中进行测试。但是实际系统中必本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种时隙交换电路测试装置，其特征在于：包括用于传递消息数据的第一交换电路、用于交换消息数据的第二交换电路、用于接收消息数据的第三交换电路和MCU主控模块，所述第二交换电路的输入端和输出端分别连接于所述第一交换电路和第三交换电路；所述第一交换电路、第二交换电路和第三交换电路分别连接于所述MCU主控模块。2.根据权利要求1所述的一种时隙交换电路测试装置，其特征在于：所述第一交换电路的PCM总线输出端连接于所述第二交换电路的PCM总线输入端，所述第二交换电路的PCM总线输出端连接于所述第三交换电路的PCM总线输入端。3.根据权利要求2所述的一种时隙交换电路测试装置，其特征在于：所述第一交换电路的PCM总线输入端接地。4.根据权利要求1所述的一种时隙交换电路测试装置，其特征在于：包括外部时钟模块，所述外部时钟模块分别连接于所述第一交换电路、第二交换电路和第三交换电路。5.根据权利要求1所述的一种时隙交换电路测试装置，其特征在于：包括电源转换模块，所述电源转换模块分别连接于所述MCU主控模块、外部时钟模块、第一交换电路、第二交换电路和第三交换电路。6.根据权利要求1所述的一种时隙交换电路测试装置，其特征在于：包括显示模块，所述显示模块连接于所述MCU主控模块。7.一种...

【专利技术属性】
技术研发人员：白清顺，
申请(专利权)人：上海新殿光电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：