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用于在衬底晶圆上沉积半导体材料层的设备和方法技术
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下载用于在衬底晶圆上沉积半导体材料层的设备和方法的技术资料
文档序号:37484910
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本发明涉及一种用于在衬底晶圆上沉积半导体材料层的设备,所述设备包括:位于上穹顶与下穹顶之间的基环;在所述层的沉积期间用作所述衬底晶圆的支撑件的基座;气体入口和气体出口;排出气体管线以及用于在所述衬底晶圆的上侧表面上方传送工艺气体的气体供应管...
该专利属于硅电子股份公司所有,仅供学习研究参考,未经过硅电子股份公司授权不得商用。
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