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一种在板测试结构及测试方法技术
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文档序号:37479420
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本发明公开了一种在板测试结构及测试方法;所述在板测试结构,包括:PCB板,所述PCB板上设有若干个贯穿通孔,所述PCB板的上表面位于所述贯穿通孔的位置设有焊盘,所述PCB板的下表面位于所述贯穿通孔的位置设有锡球,焊盘与所述锡球导通,PCB板...
该专利属于深圳忆芯信息技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过深圳忆芯信息技术有限公司授权不得商用。
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