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一种无创伤超薄金属膜测厚仪制造技术
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文档序号:37474163
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本实用新型涉及一种无创伤超薄金属膜测厚仪,包括无损伤探头和整机,整机包括高频振荡器、交流放大器、测量电桥、检波器、直流放大器、微处理器、显示屏和电源,高频振荡器的输出端连接交流放大器,交流放大器的输出端连接测量电桥,测量电桥与测量头相连接,...
该专利属于上海解明电子科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海解明电子科技有限公司授权不得商用。
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