温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明提供了一种互连结构的制备方法,包括:提供衬底,衬底上依次形成有介电层、硬掩模层和图形化的光刻胶层;以图形化的光刻胶层为掩模依次刻蚀硬掩模层和介电层,以形成贯穿硬掩模层的开口和贯穿介电层的接触孔,接触孔的深宽比为12:1~30:1;沿开...该专利属于合肥晶合集成电路股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过合肥晶合集成电路股份有限公司授权不得商用。
温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明提供了一种互连结构的制备方法,包括:提供衬底,衬底上依次形成有介电层、硬掩模层和图形化的光刻胶层;以图形化的光刻胶层为掩模依次刻蚀硬掩模层和介电层,以形成贯穿硬掩模层的开口和贯穿介电层的接触孔,接触孔的深宽比为12:1~30:1;沿开...