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一种用于等离子体CVD设备中的斜面掩模,用于沉积更均匀的膜,同时防止晶片边缘处的膜剥离。斜面掩模包括主体部分和边缘部分。主体部分包括内部倾斜表面或面,边缘部分从内部倾斜表面的底部向外延伸,以提供对基座上接收的晶片的上表面的外围部分的覆盖,其...该专利属于ASMIP私人控股有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过ASMIP私人控股有限公司授权不得商用。
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一种用于等离子体CVD设备中的斜面掩模,用于沉积更均匀的膜,同时防止晶片边缘处的膜剥离。斜面掩模包括主体部分和边缘部分。主体部分包括内部倾斜表面或面,边缘部分从内部倾斜表面的底部向外延伸,以提供对基座上接收的晶片的上表面的外围部分的覆盖,其...