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本发明涉及一种用于确定介质(2)的温度补偿的介电常数的基于高频的测量设备(1)，该测量设备的测量探头(11)包括导电内导体(111)和外导体。内导体(111)至少在沿着轴线(a)的部分中是棒状的。外导体(112)的内壁关于内导体(111)的...
该专利属于恩德莱斯和豪瑟尔欧洲两合公司所有，仅供学习研究参考，未经过恩德莱斯和豪瑟尔欧洲两合公司授权不得商用。

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