温度补偿的介电常数测量设备制造技术

本发明专利技术涉及一种用于确定介质(2)的温度补偿的介电常数的基于高频的测量设备(1)，该测量设备的测量探头(11)包括导电内导体(111)和外导体。内导体(111)至少在沿着轴线(a)的部分中是棒状的。外导体(112)的内壁关于内导体(111)的轴线(a)对称，使得内壁沿着轴线(a)朝向介质延展。针对温度补偿，测量设备(1)包括温度传感器(113)，根据本发明专利技术，该温度传感器(113)被定位在内导体(111)的第一端部区域中，外导体(112)的内壁朝向该端部区域延展。多个传感器端子(1131)中的一个处于内导体(111)的电位。作为根据本发明专利技术的温度传感器(113)的这种一体化的结果，介质(2)的温度被直接测量，而不损害介电常数的基于高频的测量。由此，介电常数的高准确度测量和高准确度温度补偿成为可能。可能。可能。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】温度补偿的介电常数测量设备


[0001]本专利技术涉及一种用于确定介质的温度补偿的介电常数的测量设备。

技术介绍

[0002]在自动化技术中，尤其是对于过程自动化，经常使用用来检测各种被测变量的现场设备。被测变量例如可以是过程工厂中介质的填充料位、流量、压力、温度、pH值、氧化还原电位、电导率或介电常数。为了检测对应的被测值，现场设备分别包括合适的传感器或基于合适的测量方法。Endress+Hauser集团公司生产和销售各种不同类型的现场设备。
[0003]各种介质的介电常数(也称为“比电感容量”或“相对电容率”)的确定对于固体负载以及对于液体负载和气体负载，诸如燃料、废水、气体、气体相或化学品，都非常重要，这是因为该常数能够是污染物、水分含量、材料浓度或材料组成的可靠指标。确定介电常数的可能测量原理是测量高频信号的振幅、相移或信号渡越时间。具有定义的频率或在定义的频带内的高频信号由此被耦合到介质中，并且关于所发射的高频信号，相对于对应的接收信号的振幅、相位位置或信号渡越时间来评估该对应的接收信号。在本专利申请的上下文中，术语“高频信号本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种用于确定介质(2)的温度补偿的介电常数的测量设备，所述测量设备包括：
‑
测量探头(11)，所述测量探头(11)具有：
○
导电内导体(111)，所述导电内导体(111)至少在沿着轴线(a)的部分中是棒状的，
○
外导体(112)，所述外导体(112)围绕所述内导体(111)布置并且包括至少一个导电内壁，其中所述内壁关于所述轴线(a)对称，使得所述内壁沿着所述轴线(a)延展，
○
温度传感器(113)，
■
所述温度传感器(113)被定位在所述内导体(111)的第一端部区域中，所述外导体(112)的所述内壁朝向所述端部区域延展，
■
所述温度传感器(113)包括至少两个电端子(1131、1132)，其中第一端子(1131)处于所述内导体(111)的电位，其中，所述测量探头(11)被设计成使得，在所述测量设备(1)的安装状态下，所述内导体(111)的、其中定位有所述温度传感器(113)的所述第一端部区域朝向所述介质(2)定向，
‑
控制/评估单元(12)，所述控制/评估单元(12)被设计成
○
经由所述温度传感器(113)的第二端子(1132)确定所述介质(2)的温度，
○
将高频电信号(s
HF
)耦合到所述内导体(111)或所述外导体(112)中并且接收对应的接收信号(r
HF
)，以及
○
使用所确定的温度并且使用所述接收信号(r
HF
)以温度补偿的方式确定所述介质(2)的介电常数。2.根据权利要求1所述的测量设备，其中，所述控制/评估单元(12)被设计成使用所述接收信号(r
HF
)的相位位置、使用所述接收信号(r
HF
)的振幅和/或使用所述接收信号(r
HF
)的...

【专利技术属性】
技术研发人员：帕布洛，
申请(专利权)人：恩德莱斯和豪瑟尔欧洲两合公司，
类型：发明
国别省市：