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本实用新型提供了一种晶圆平面度测量装置,包括:基台,其上设置有用于承载晶圆的载片台,所述载片台置于所述基台的隔振组件上;测量位移组件,其包括运动方向彼此正交的第一位移单元与第二位移单元,所述第一位移单元与第二位移单元的运动方向所在的直线平行...该专利属于北京华卓精科科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京华卓精科科技股份有限公司授权不得商用。
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