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本发明公开了一种芯片失效的筛选方法及装置，方法包括：在预设温度下对目标芯片施加读取电压，并获取所述目标芯片在所述读取电压下的读出电流值，所述读取电压位于所述目标芯片的工作电压范围内；将所述目标芯片的默认参考电流值调整为预设参考电流值，所述预...
该专利属于普冉半导体（上海）股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过普冉半导体（上海）股份有限公司授权不得商用。

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