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一种针对宽带半导体的动态高温反偏测试电路和方法技术
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文档序号:37398627
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本发明涉及一种针对宽带半导体的动态高温反偏测试电路和方法,测试电路电源电路、控制电路和测试子电路,控制电路与测试子电路连接,电源电路用于对测试电路提供电源,控制电路用于给测试子电路提供控制信号,接收测量结果,测试子电路用于根据控制电路的脉冲...
该专利属于忱芯科技(上海)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过忱芯科技(上海)有限公司授权不得商用。
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