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本申请公开了一种动态相位噪声测试方法，包括以下步骤：多个晶体振荡器同时通过专用夹具固定在振动试验台上，在设定的振动条件下，在每一个采样周期内，通过电脑控制多路选择开关轮流对各个晶体振荡器输出信号进行采样，直到采样周期的数量达到设定的计数值；...
该专利属于北京无线电计量测试研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京无线电计量测试研究所授权不得商用。

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