一种动态相位噪声测试方法和系统技术方案

本申请公开了一种动态相位噪声测试方法，包括以下步骤：多个晶体振荡器同时通过专用夹具固定在振动试验台上，在设定的振动条件下，在每一个采样周期内，通过电脑控制多路选择开关轮流对各个晶体振荡器输出信号进行采样，直到采样周期的数量达到设定的计数值；根据获得的采样数据，计算任一晶体振荡器在所述设定的振动条件下的相位噪声值。本申请还包含使用所述方法进行动态相位噪声测试的系统。本申请解决单独测试晶振效率低、误差大的问题。误差大的问题。误差大的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种动态相位噪声测试方法和系统


[0001]本申请涉及电子
，尤其涉及一种晶体振荡器的动态相位噪声测试方法和系统。

技术介绍

[0002]作为航空航天、通信导航等系统中的时间频率基准和频率控制元件，晶体振荡器对系统性能的发挥起着至关重要的作用。随着各应用领域的不断发展，对环境适应性的要求也在不断提高。在卫星发射升空、航天器在轨运行、飞机空中飞行等过程中，经常存在剧烈的振动，晶体振荡器受到振动影响，输出信号的稳定性会发生恶化，导致输出频率产生偏差，系统性能下降，严重时可能会出现通信中断，导航失效以及雷达失准等系统异常现象。因此，如何准确快速测试晶体振荡器振动下的性能，变得尤为重要，而相位噪声作为晶体振荡器的一项重要指标，更亟需一套完善的测试系统。
[0003]传统的测试系统需对被每只测试晶振进行单独测试，尤其在振动环境下，频繁的更换不仅耗费大量时间，而且会干扰测试线，从而影响测试的准确性。

技术实现思路

[0004]本申请提出一种动态相位噪声测试方法和系统，解决单独测试晶振效率低、误差大的问题。<br/>[0005]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种动态相位噪声测试方法，其特征在于，包括以下步骤：多个晶体振荡器同时通过专用夹具固定在振动试验台上，在设定的振动条件下，在每一个采样周期内，控制多路选择开关轮流对各个晶体振荡器输出信号进行采样，直到采样周期的数量达到设定的计数值；根据获得的采样数据，计算任一晶体振荡器在所述设定的振动条件下的相位噪声值。2.如权利要求1所述动态相位噪声测试方法，其特征在于，进一步包含以下步骤：改变振动条件，重复上述步骤，获得任一晶体振荡器在设定的另一振动条件下的相位噪声值；比较设定的多个振动条件下的所述任一晶体振荡器的相位噪声值，获得所述任一晶体振荡器相位噪声值和振动条件的相关系数。3.如权利要求2所述动态相位噪声测试方法，其特征在于，比较多个晶体振荡器的所述相关系数，选择相关系数小于或大于第一设定阈值的晶体振荡器。4.如权利要求1～3任一所述动态相位噪声测试方法，其特征在于，计算任一晶体振荡器在设定的多个振动条件下的相位噪声变化值，选择相位噪声变化值小于或大于第二设定阈值的晶体振荡器。5.如权利要求1～3任一所述的动态相位噪声测试方法，其特征在于，所述设定的多个振动条件，为振动强度随时间变化量，或者，在设定的振动强度下振动的持续时长变化量。6.一种动态相位噪声测试系统，用于实现权利要求1～5任意一项所述方法，其特征在于，包括：振动试验台、多路选择开...

【专利技术属性】
技术研发人员：郄莉，彭慧丽，于德江，乔志峰，张亮，张雷，王巨，
申请(专利权)人：北京无线电计量测试研究所，
类型：发明
国别省市：