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本发明公开一种VCSEL Array激光器综合测试系统，涉及芯片测试装置技术领域，包括：机架，内部设置有装配空间；测试台，安装于装配空间内部；支撑架，安装在测试台上，且支撑架上开设有测试口；位移组件，安装于测试台上；测试组件，安装在支撑架上...
该专利属于上海菲莱测试技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海菲莱测试技术有限公司授权不得商用。

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