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本发明提供一种面向动态光散射测量的双分散系粒径精确反演算法，属于纳米颗粒粒径检测技术领域。首先，通过对光电探测器采集到的散射光强数据进行自相关计算得到散射光强自相关函数；然后，对归一化光强自相关函数进行拟合处理，从而更加准确地获得衰减线宽系...
该专利属于大连理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过大连理工大学授权不得商用。

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