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本申请涉及内存检测技术领域，具体涉及RAM测试覆盖率收集方法及装置。RAM测试覆盖率收集方法包括：根据测试环境中的RAM的参数对一通用接口组件进行例化；测试环境包括冲突源和RAM；建立冲突源与例化后的通用接口组件的连接；通过例化后的通用接口...
该专利属于北京物芯科技有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京物芯科技有限责任公司授权不得商用。

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