一种RAM测试覆盖率收集方法、装置和通用接口组件制造方法及图纸

本申请涉及内存检测技术领域，具体涉及RAM测试覆盖率收集方法及装置。RAM测试覆盖率收集方法包括：根据测试环境中的RAM的参数对一通用接口组件进行例化；测试环境包括冲突源和RAM；建立冲突源与例化后的通用接口组件的连接；通过例化后的通用接口组件基于连接采集冲突源访问RAM时发送的数据；根据采集到的冲突源发送的数据确定测试覆盖率。上述通用接口组件针对于不同的RAM通过不同参数的方式进行例化和区别，能够适应不同的测试环境中的RAM，实现了统一、通用的RAM测试覆盖率收集。通用的RAM测试覆盖率收集。通用的RAM测试覆盖率收集。

【技术实现步骤摘要】
一种RAM测试覆盖率收集方法、装置和通用接口组件


[0001]本专利技术涉及内存检测
，尤其涉及一种RAM测试覆盖率收集方法、装置、通用接口组件及计算设备。

技术介绍

[0002]随机存取存储器(RandomAccessMemory，RAM)又称随机存储器，是与中央处理器(CentralProcessingUnit，CPU)直接交换数据的内部存储器。它可以随时读写，而且速度很快，通常作为操作系统或其他正在运行中的程序的临时数据存储媒介。
[0003]对于CPU访问RAM是否存在问题，可以通过CPU对RAM的读写测试进行确定，而在测试过程中，可以通过覆盖率收集确定测试的全面性。
[0004]现有技术中大多数情况是通过波形检查，或者每个测试事件覆盖后进行特定的覆盖率收集，操作繁琐且没有统一、通用的RAM测试覆盖率收集方案。

技术实现思路

[0005]鉴于现有技术的以上问题，本申请提供一种RAM测试覆盖率收集方法和装置，能够实现RAM测试覆盖率收集的通用性和全面性。
[0006]为达到上述目的，本申请第一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种RAM测试覆盖率收集方法，其特征在于，包括：根据测试环境中的RAM的参数对一通用接口组件进行例化；所述测试环境包括冲突源和所述RAM；建立所述冲突源与例化后的通用接口组件的连接；通过所述例化后的通用接口组件基于所述连接采集所述冲突源访问所述RAM时发送的数据；根据所述采集到的所述冲突源发送的所述数据确定测试覆盖率。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述采集所述冲突源访问所述RAM时发送的数据，包括：根据时钟顺序，按一定采样周期依次采集所述冲突源访问所述RAM时发送的数据，并依次存储到各寄存器中；所述根据所述采集到的所述冲突源发送的所述数据确定测试覆盖率，包括：根据所述各寄存器中存储的所述冲突源发送的所述数据进行比较确定测试覆盖率。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述确定测试覆盖率包括：根据所述采集到的所述冲突源发送的所述数据确定是否匹配覆盖测试需求点；根据所述是否覆盖测试需求点计算所述测试覆盖率。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述RAM的参数包括至少以下之一：数据位宽、地址线长度、所述冲突源的数量、需要统计的冲突窗的长度、是否需要奇偶时隙。5.一种RAM测试覆盖率收集装置，其特征在于，包括：例化模块，用于根据测试环境中的RAM的参数对一通用接口组件进行例化；所述测试环境包括冲突源和所述RAM；连接模块，用于建立所述冲突源与例化后的通用接口组件的连接；采集模块，用于通过所述例化后的通用接口组件...

【专利技术属性】
技术研发人员：王政清，
申请(专利权)人：北京物芯科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：