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本申请实施例提供一种检测系统，检测系统包括光源，适于发出与待测物表面成第一夹角且与所述待测物所在表面内纵横交错排布的切割道成45
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该专利属于深圳中科飞测科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳中科飞测科技股份有限公司授权不得商用。

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