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本申请公开了一种高精度半导体测试电源多路输出控制方法及系统，其中该方法包括：对待输出的多个测试电信号进行电压采集，得到电压参数偏差集合，当待输出的测试电信号的个数高于预设的群控阈值时，对电压参数偏差集合和标准电压参数进行非参数检验估计，得到...
该专利属于深圳市大族半导体测试技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市大族半导体测试技术有限公司授权不得商用。

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