下载半导体器件及其形成方法的技术资料

文档序号:37347110

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本申请公开一种半导体器件及其形成方法,其中形成方法包括:提供衬底,所述衬底包括多个凸柱,相邻两个所述凸柱之间具有凹槽;在各个所述凹槽底部形成未掺杂的第一半导体层;对所述第一半导体层进行掺杂处理;在掺杂后的所述第一半导体层表面形成掺杂的第一导...
该专利属于福建省晋华集成电路有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过福建省晋华集成电路有限公司授权不得商用。

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