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本发明属集成电路技术领域，涉及集成电路可靠性设计中电路时序的老化效应分析，尤其是一种针对数字集成电路时序老化的快速分析方法。本发明中由输入的电路时序路径构建电路图，针对每一种类型的延时单元引入一个老化因子；采用基于Endpoint的关键路径...
该专利属于复旦大学所有，仅供学习研究参考，未经过复旦大学授权不得商用。

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