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一种测量光轴偏移量的方法、电子设备、系统和存储介质技术方案
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下载一种测量光轴偏移量的方法、电子设备、系统和存储介质的技术资料
文档序号:37333071
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本发明实施例公开了一种测量光轴偏移量的方法、电子设备、系统和存储介质。所述方法用于测量拍摄设备的光轴偏移量,包括:从拍摄设备支持的镜头倍率中选择N个采样镜头倍率;针对每一个采样镜头倍率,分别执行以下步骤确定对应的光轴偏移量:采用该采样镜头倍...
该专利属于浙江宇视科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过浙江宇视科技有限公司授权不得商用。
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