下载一种以SiO2覆盖的方式阻碍GaN内位错生长的方法的技术资料

文档序号:37332003

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。

一种以SiO2覆盖的方式阻碍GaN内位错生长的方法,步骤S1:在MOCVD反应室内,在蓝宝石衬底上制备GaN形核层,步骤S2:刻蚀将衬底及GaN转移出反应室,使用KOH进行选择性刻蚀;步骤S3:沉积二氧化硅将衬底转移至PECVD反应室中,在...
该专利属于上海艾克森电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海艾克森电子有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。