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本申请公开了一种芯片边缘放置误差确定方法、装置、设备、存储介质，涉及光学邻近校正技术领域，包括：对芯片仿真的光刻胶图形边缘进行像素化处理，获取目标像素；利用预设编码方式对目标像素进行编码，获取目标像素编码；对目标像素编码进行适应性评估，并从...
该专利属于华芯程（杭州）科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过华芯程（杭州）科技有限公司授权不得商用。

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