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本申请涉及一种测针，测针包括固定部和延伸部，固定部和延伸部均为金属薄片结构，延伸部从固定部的一端面中的预设区域延伸而出，延伸部的顶部设置有接触部，接触部的表面用于与待测试电极进行接触以进行测试，接触部的表面设置有多条沟槽，通过对测针中的延伸...
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