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本发明涉及半导体领域，其提供了一种芯片及其测试方法，所述芯片包括光学链路，所述光学链路包括：波导，所述波导包括沿着芯片边缘布置的边缘波导部分，所述边缘波导部分距离所述芯片边缘的距离小于等于500μm，所述边缘波导部分对应的芯片边缘的累计长度...
该专利属于南京光智元科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过南京光智元科技有限公司授权不得商用。

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