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本发明公开了一种芯片稳定性的自检测方法及其电路，方法由芯片工作前自发执行，包括：对芯片内部的LDO电路输出端进行采样，并根据采样得到的LDO电路输出，得到所述LDO电路的脉冲响应；根据所述脉冲响应，计算得到所述LDO电路的阻尼比，并根据所述...
该专利属于广东省大湾区集成电路与系统应用研究院所有，仅供学习研究参考，未经过广东省大湾区集成电路与系统应用研究院授权不得商用。

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