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本发明涉及端子排的寿命预测方法、装置、存储介质和电子设备，包括：对端子排的现场运行环境进行监测，获得现场环境监测参数；测量铜测试片的腐蚀产物膜厚度并计算现场环境下的铜测试片的腐蚀量与时间的对应关系；根据现场环境监测参数进行端子排加速试验；获...该专利属于中国广核集团有限公司中国广核电力股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中国广核集团有限公司中国广核电力股份有限公司授权不得商用。