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本发明公开了一种量子芯片失效分析设备及分析方法，应用于量子芯片技术领域，固定装置包括冷镶壳体，冷镶壳体具有一用于容纳待测量子芯片以及冷镶液的内腔；内腔设置有刻度线，以在固定装置内形成冷镶样品后，在冷镶样品表面形成转印的刻度线；减薄装置用于根...
该专利属于量子科技长三角产业创新中心所有，仅供学习研究参考，未经过量子科技长三角产业创新中心授权不得商用。

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