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本发明揭示了一种基于SRAM的ECC校验方法和装置，所述装置包括相互连接的SRAM、逻辑拼接电路和ECC编码器，所述方法包括：当ECC使能且从总线获取的待写入数据的位数为X位时，所述逻辑拼接电路从所述SRAM中读取数据，并从总线获取总线侧数...
该专利属于芯弦半导体（苏州）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过芯弦半导体（苏州）有限公司授权不得商用。

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