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提供一种能够抑制对存在于剥离膜的表面的缺陷的过度检测并高精度地检测存在于偏光片与光学膜之间的缺陷的光学层叠体的检查方法。本发明包括以下工序：透射检查工序(S1)，基于利用透过光学层叠体(S)的光生成的透射图像来检测缺陷候选；正交尼科尔棱镜检...
该专利属于日东电工株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过日东电工株式会社授权不得商用。

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