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提供了一种光学检查装置和光学检查方法。该光学检查装置包括：光学测量单元；第一探针，设置在光学测量单元下方并且提供第一电压；基体框架，设置在光学测量单元下方并且与第一探针分隔开；以及第二探针，设置在基体框架的一个表面上，提供与第一电压不同的第...
该专利属于三星显示有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过三星显示有限公司授权不得商用。

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