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本申请公开一种nand flash掉电测试装置、掉电测试方法及存储介质，其中，掉电测试装置包括作为掉电测试对象的Device设备和作为掉电测试机的Host设备，Device设备包括NAND Flash模组；Host设备连接NAND Flas...
该专利属于珠海妙存科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过珠海妙存科技有限公司授权不得商用。

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