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本发明揭示了一种开关自动测试系统、方法、电子设备及存储介质，所述自动测试系统包括上位机测控模块、伺服定位模块、高低温冲击模块、电压采集模块及LCR测试模块；伺服定位模块用以固定待测开关，并控制待测开关做精确距离移动；高低温冲击模块用以罩住待...
该专利属于麦歌恩电子（上海）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过麦歌恩电子（上海）有限公司授权不得商用。

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