开关自动测试系统、方法、电子设备及存储介质技术方案

本发明专利技术揭示了一种开关自动测试系统、方法、电子设备及存储介质，所述自动测试系统包括上位机测控模块、伺服定位模块、高低温冲击模块、电压采集模块及LCR测试模块；伺服定位模块用以固定待测开关，并控制待测开关做精确距离移动；高低温冲击模块用以罩住待测开关，对待测开关进行预设温度的加温测试；电压采集模块连接待测开关，用以对待测开关进行电压采集；LCR测试模块连接待测开关，用以对待测开关的LCR参数进行测试。本发明专利技术提出的开关自动测试系统、方法、电子设备及存储介质，可提高测试的自动化程度，提高测试的精确度。提高测试的精确度。提高测试的精确度。

【技术实现步骤摘要】
开关自动测试系统、方法、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术属于开关测试
，涉及一种开关测试系统，尤其涉及一种开关自动测试系统、方法、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]对于线圈式接近开关参数的测试，需要测出接近开关在不同温度下，在一定的距离范围内每个距离点下对应的输出电压、RP、Ls、Lp、Q值，并保存这些参数值；目前市面上没有满足这些测试要求的整套测试系统。现有测试方式通常是手动测试，或者仅针对部分功能的测试，效率较低。
[0003]有鉴于此，如今迫切需要设计一种新的开关测试方式，以便克服现有开关测试方式存在的上述至少部分缺陷。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供一种开关自动测试系统、方法、电子设备及存储介质，可提高测试的自动化程度，提高测试的精确度。
[0005]为解决上述技术问题，根据本专利技术的一个方面，采用如下技术方案：
[0006]一种开关自动测试系统，所述自动测试系统包括：上位机测控模块、伺服定位模块、高低温冲击模块、电压采集模块及LCR测试模块；
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种开关自动测试系统，其特征在于，所述自动测试系统包括：上位机测控模块、伺服定位模块、高低温冲击模块、电压采集模块及LCR测试模块；所述上位机测控模块分别连接伺服定位模块、高低温冲击模块、电压采集模块、LCR测试模块，用以对所述伺服定位模块、高低温冲击模块、电压采集模块、LCR测试模块进行控制，并保存开关的测试结果；所述伺服定位模块用以固定待测开关，并控制待测开关做精确距离移动；所述高低温冲击模块用以罩住待测开关，对待测开关进行预设温度的加温测试；所述电压采集模块连接待测开关，用以对待测开关进行电压采集；所述LCR测试模块连接待测开关，用以对待测开关的LCR参数进行测试。2.根据权利要求1所述的开关自动测试系统，其特征在于：所述上位机测控模块包括：伺服定位模块控制单元，用以连接伺服定位模块，设置伺服原点，控制所述伺服定位模块做绝对运动及绝对往复运动，对距离数据自动读取保存；高低温冲击控制单元，用以控制所述高低温冲击模块对待测开关进行预设温度的加温测试；电压采集控制单元，用以控制所述电压采集模块采集电压，并对电压测试结果自动保存；LCR测试模块控制单元，用以控制所述LCR测试模块读取线圈的RP、LS、Lp、Q值中的至少一个，并对此结果自动保存。3.根据权利要求1所述的开关自动测试系统，其特征在于：所述高低温冲击模块用以罩住待测开关，对待测开关进行
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40℃、25℃、150℃加温测试。4.根据权利要求1所述的开关自动测试系统，其特征在于：所述高低温冲击模块包括产生高低温冲击设备和耐高低温材料做的保温罩，通过设置高低温设备使...

【专利技术属性】
技术研发人员：黎弋平，
申请(专利权)人：麦歌恩电子上海有限公司，
类型：发明
国别省市：