开关自动测试系统、方法、电子设备及存储介质技术方案

本发明专利技术揭示了一种开关自动测试系统、方法、电子设备及存储介质，所述自动测试系统包括上位机测控模块、伺服定位模块、高低温冲击模块、电压采集模块及LCR测试模块；伺服定位模块用以固定待测开关，并控制待测开关做精确距离移动；高低温冲击模块用以罩住待测开关，对待测开关进行预设温度的加温测试；电压采集模块连接待测开关，用以对待测开关进行电压采集；LCR测试模块连接待测开关，用以对待测开关的LCR参数进行测试。本发明专利技术提出的开关自动测试系统、方法、电子设备及存储介质，可提高测试的自动化程度，提高测试的精确度。提高测试的精确度。提高测试的精确度。

【技术实现步骤摘要】
开关自动测试系统、方法、电子设备及存储介质


[0001]本专利技术属于开关测试
，涉及一种开关测试系统，尤其涉及一种开关自动测试系统、方法、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]对于线圈式接近开关参数的测试，需要测出接近开关在不同温度下，在一定的距离范围内每个距离点下对应的输出电压、RP、Ls、Lp、Q值，并保存这些参数值；目前市面上没有满足这些测试要求的整套测试系统。现有测试方式通常是手动测试，或者仅针对部分功能的测试，效率较低。
[0003]有鉴于此，如今迫切需要设计一种新的开关测试方式，以便克服现有开关测试方式存在的上述至少部分缺陷。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供一种开关自动测试系统、方法、电子设备及存储介质，可提高测试的自动化程度，提高测试的精确度。
[0005]为解决上述技术问题，根据本专利技术的一个方面，采用如下技术方案：
[0006]一种开关自动测试系统，所述自动测试系统包括：上位机测控模块、伺服定位模块、高低温冲击模块、电压采集模块及LCR测试模块；
[0007]所述上位机测控模块分别连接伺服定位模块、高低温冲击模块、电压采集模块、LCR测试模块，用以对所述伺服定位模块、高低温冲击模块、电压采集模块、LCR测试模块进行控制，并保存开关的测试结果；
[0008]所述伺服定位模块用以固定待测开关，并控制待测开关做精确距离移动；
[0009]所述高低温冲击模块用以罩住待测开关，对待测开关进行预设温度的加温测试；
[0010]所述电压采集模块连接待测开关，用以对待测开关进行电压采集；
[0011]所述LCR测试模块连接待测开关，用以对待测开关的LCR参数进行测试。
[0012]作为本专利技术的一种实施方式，所述上位机测控模块包括：
[0013]伺服定位模块控制单元，用以通过RS485接口连接伺服，设置伺服原点，控制所述伺服定位模块做绝对运动及绝对往复运动，对距离数据自动读取保存；
[0014]高低温冲击控制单元，用以控制所述高低温冲击模块对待测开关进行
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40℃、25℃、150℃预设温度的加温测试；
[0015]电压采集控制单元，用以通过USB接口控制所述电压采集模块采集电压，并对电压测试结果自动保存；
[0016]LCR测试模块控制单元，用以通过USB接口控制所述LCR测试模块读取线圈的RP、LS、Lp、Q值中的至少一个，并对此结果自动保存。
[0017]作为本专利技术的一种实施方式，所述高低温冲击模块用以罩住待测开关，对待测开关进行
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40℃、25℃、150℃加温测试。
[0018]作为本专利技术的一种实施方式，所述高低温冲击模块包括产生高低温冲击设备和耐高低温材料做的保温罩，通过设置高低温设备使输出
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40℃、25℃、150℃气流，气流加入到保温罩中，对待测件进行温度调节，同时能采集反馈保温罩中带测件的环境温度。
[0019]根据本专利技术的另一个方面，采用如下技术方案：一种开关自动测试方法，所述自动测试方法包括：
[0020]伺服定位步骤；伺服定位模块固定待测开关，并控制待测开关做精确距离移动；
[0021]高低温冲击步骤；高低温冲击模块罩住待测开关，对待测开关进行预设温度的加温测试；
[0022]电压采集步骤；电压采集模块对待测开关进行电压采集；
[0023]LCR测试步骤；LCR测试模块对待测开关的设定LCR参数进行测试。
[0024]作为本专利技术的一种实施方式，所述伺服定位步骤包括：上位机测控模块的伺服定位模块控制单元通过RS485接口连接伺服定位模块，设置原点，控制所述伺服定位模块做绝对运动及绝对往复运动，对距离数据自动读取保存。
[0025]作为本专利技术的一种实施方式，所述电压采集步骤包括：上位机测控模块的电压采集控制单元通过USB接口控制所述电压采集模块采集电压，并对电压测试结果自动保存。
[0026]作为本专利技术的一种实施方式，所述LCR测试步骤包括：上位机测控模块的LCR测试模块控制单元通过USB接口控制所述LCR测试模块读取线圈的RP、LS、Lp、Q值中的至少一个，并对此结果自动保存。
[0027]根据本专利技术的又一个方面，采用如下技术方案：一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述方法的步骤。
[0028]根据本专利技术的又一个方面，采用如下技术方案：一种存储介质，其上存储有计算机程序指令，该计算机程序指令被处理器执行时实现上述方法的步骤。
[0029]本专利技术的有益效果在于：本专利技术提出的开关自动测试系统、方法、电子设备及存储介质，可提高测试的自动化程度，提高测试的精确度。
附图说明
[0030]图1为本专利技术一实施例中开关自动测试系统的组成示意图。
[0031]图2为本专利技术一实施例中开关自动测试方法的流程图。
[0032]图3为本专利技术一实施例中电子设备的组成示意图。
具体实施方式
[0033]下面结合附图详细说明本专利技术的优选实施例。
[0034]为了进一步理解本专利技术，下面结合实施例对本专利技术优选实施方案进行描述，但是应当理解，这些描述只是为进一步说明本专利技术的特征和优点，而不是对本专利技术权利要求的限制。
[0035]该部分的描述只针对几个典型的实施例，本专利技术并不仅局限于实施例描述的范围。相同或相近的现有技术手段与实施例中的一些技术特征进行相互替换也在本专利技术描述和保护的范围内。
[0036]说明书中各个实施例中的步骤的表述只是为了方便说明，本申请的实现方式不受步骤实现的顺序限制。
[0037]说明书中的“连接”既包含直接连接，也包含间接连接。
[0038]本专利技术揭示了一种开关自动测试系统，图1为本专利技术一实施例中开关自动测试系统的组成示意图；请参阅图1，所述自动测试系统包括：上位机测控模块1、伺服定位模块2、高低温冲击模块3、电压采集模块4及LCR测试模块5。本专利技术可用于测试线圈式接近开关，也可以是其他和距离相关的感应开关。
[0039]所述上位机测控模块1分别连接伺服定位模块2、高低温冲击模块3、电压采集模块4、LCR测试模块5，用以对所述伺服定位模块2、高低温冲击模块3、电压采集模块4、LCR测试模块5进行控制，并保存开关的测试结果。
[0040]所述伺服定位模块2用以固定待测开关，并控制待测开关做精确距离移动。
[0041]所述高低温冲击模块3用以罩住待测开关，对待测开关进行预设温度的加温测试。在一实施例中，所述高低温冲击模块3用以罩住待测开关，对待测开关进行
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40℃、25℃、150℃加温测试。所述高低温冲击模块3包括产生高低温冲击设备和耐高低温材料做的保温罩，通过设置高低温设备使输出
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40℃、25℃、150℃气流，气流加入到保温罩中，对本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种开关自动测试系统，其特征在于，所述自动测试系统包括：上位机测控模块、伺服定位模块、高低温冲击模块、电压采集模块及LCR测试模块；所述上位机测控模块分别连接伺服定位模块、高低温冲击模块、电压采集模块、LCR测试模块，用以对所述伺服定位模块、高低温冲击模块、电压采集模块、LCR测试模块进行控制，并保存开关的测试结果；所述伺服定位模块用以固定待测开关，并控制待测开关做精确距离移动；所述高低温冲击模块用以罩住待测开关，对待测开关进行预设温度的加温测试；所述电压采集模块连接待测开关，用以对待测开关进行电压采集；所述LCR测试模块连接待测开关，用以对待测开关的LCR参数进行测试。2.根据权利要求1所述的开关自动测试系统，其特征在于：所述上位机测控模块包括：伺服定位模块控制单元，用以连接伺服定位模块，设置伺服原点，控制所述伺服定位模块做绝对运动及绝对往复运动，对距离数据自动读取保存；高低温冲击控制单元，用以控制所述高低温冲击模块对待测开关进行预设温度的加温测试；电压采集控制单元，用以控制所述电压采集模块采集电压，并对电压测试结果自动保存；LCR测试模块控制单元，用以控制所述LCR测试模块读取线圈的RP、LS、Lp、Q值中的至少一个，并对此结果自动保存。3.根据权利要求1所述的开关自动测试系统，其特征在于：所述高低温冲击模块用以罩住待测开关，对待测开关进行
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40℃、25℃、150℃加温测试。4.根据权利要求1所述的开关自动测试系统，其特征在于：所述高低温冲击模块包括产生高低温冲击设备和耐高低温材料做的保温罩，通过设置高低温设备使...

【专利技术属性】
技术研发人员：黎弋平，
申请(专利权)人：麦歌恩电子上海有限公司，
类型：发明
国别省市：